菲希爾X射線測厚儀XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

菲希爾X射線測厚儀XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測厚儀,X射線測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL220典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

? FISCHER XDL220測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

? FISCHER XDL220測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? FISCHER XDL220測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動測量，如測量印刷線路板

? 分析電鍍?nèi)芤?/p>