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一文了解X射線熒光測厚儀測試過程及注意事項
更新時間:2022-12-02 點擊次數(shù):867次
X射線熒光測厚儀
是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出好的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。
X射線熒光測厚儀測量原理:
當(dāng)原子受到原級X射線或其他微觀粒子的激發(fā)使原子內(nèi)層電子電離而出現(xiàn)空位,原子內(nèi)層電子重新配位,較外層的電子躍遷到內(nèi)層空位,并同時放出次級X射線,即X射線熒光。X射線熒光的波長對不同元素是特征的,因此可以根據(jù)元素X射線熒光特征波長對元素做定性分析,根據(jù)元素釋放出來的熒光強度,來進行定量分析如元素厚度或含量分析。
X射線熒光測厚儀測試過程及注意事項:
1.儀器及附件均處開機狀態(tài)。
2.在程序庫中選中與產(chǎn)品對應(yīng)的曲線。
3.打開儀器前蓋,臺面自動伸出。
4.將樣品放入儀器臺面,測量大致位置對準儀器紅外對焦點。
5.關(guān)閉儀器前蓋,儀器臺面自動歸位。
6.在顯示器屏幕中用鼠標(biāo)控制儀器臺面微調(diào),精確對準測試位置。
7.測試過程中指示燈亮紅,此時嚴禁打開儀器前蓋。
8.測試時間十五秒主窗口及數(shù)據(jù)表中顯示測試產(chǎn)品厚度。
9.指示燈熄滅,打開儀器前蓋,臺面自動伸出。取出樣品,完成測試。
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